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H J Dudek

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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
By: M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel
Publisher: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
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AED355
Binding:
Paperback
Release:
06 Dec 2011
Language:
German
Available
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2.
Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims Sekundar-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rontgen-Photoelektronen-Spektrometrie
Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims Sekundar-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rontgen-Photoelektronen-Spektrometrie
By: M Grasserbauer, H J Dudek, Maria F Ebel
Publisher: Springer
No Review Yet
AED288
Binding:
Hardback
Release:
01 Jun 1986
Language:
German
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