Elektronen-Übermikroskopie: Physik · Technik · Ergebnisse

Dieser Buchtitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfängen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen für die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfügung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden müssen. Dieser Titel erschien in der Zeit vor 1945 und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben.

Table of Contents:
A. Allgemeine Grundlagen.- I. Eigenschaften der Elektronenstrahlung.- II. Elektrostatische Sammellinsen.- III. Magnetische Sammellinsen.- IV. Die Elektronenquelle.- V. Elektronenindikatoren.- B. Die theoretischen Grundlagen des Elektronenmikroskopes.- I. Wirkungsweise.- II. Die Grenzen für das Auflösungsvermögen.- C. Die theoretischen Grundlagen der Elektronensonden-Mikroskope.- I. Wirkungsweise.- II. Die Grenzen für das Auflösungsvermögen.- D. Elektronenstrahlung und Objekt.- I. Die durch Elektronenstreuung im Objekt verursachten Abbildungsfehler und ihr Verhältnis zueinander.- II. Die Größe der Objektbelastung.- III. Die Empfindlichkeit lebender Substanz gegen Elektronenbestrahlung.- E. Wichtige Größen für die Dimensionierung von Elektronenmikroskopen.- I. Die Größe und Abschirmung störender Magnetfelder.- II. Das Auflösungsvermögen photographischer Schichten für Elektronenstrahlung.- III. Das Auflösungsvermögen von Leuchtschirmen für Elektronenstrahlung.- IV. Die Abschirmung schädlicher Röntgenstrahlung.- F. Bauelemente und Hilfseinrichtungen der Elektronenmikroskope.- I. Das Kathodensystem.- II. Die kurzbrennweitigen Elektronenlinsen.- III. Die Objekthalterungen und Objektschleusen.- IV. Kamera und Photomaterialschleuse.- V. Blenden und Bohrvorrichtungen für kleinste Blendlöcher.- G. Die Vakuumtechnik der Elektronenmikroskope.- I. Das erforderliche Vakuum.- II. Die Pumpanlage.- III. Vakuummessung und Suche nach Undichtigkeiten.- IV. Vakuumtechnische Konstruktionselemente.- H. Die Hochspannungsanlagen der Elektronenmikroskope.- I. Die Messung von Schwankungen der Hochspannung.- II. Hochspannungsanlagen großer Spannungskonstanz.- J. Die praktische Ausführung des Elektronenmikroskopes.- I. Die Dimensionierung.- II. Die Gesamtkonstruktion.-III. Das Kondensorsystem.- IV. Das Objekt- und Objektivsystem.- V. Das Projektionslinsensystem.- VI. Die Kamera.- VII. Die Scharfstellung.- K. Die praktische Ausführung der Elektronensonden-Mikroskope.- I. Die Dimensionierung.- II. Herstellung der Elektronensonde.- III. Herstellung des Objektrasters beim Rastermikroskop.- IV. Die Registriereinrichtung der Sondenmikroskope.- V. Die Scharfstellung der Sondenmikroskope.- L. Objektpräparierungstechnik.- I. Die verschiedenen Arten elektronenmikroskopischer Präparate.- II. Die Keilschnittmethode zur Herstellung von Mikrotomschnitten mit weniger als 10?3 mm Stärke.- III. Objekte auf Folien.- IV. Die Verwendung der Strahlungssonden für Mikromanipulationen.- M. Die Bestimmung des Auflösungsvermögens.- I. Die verschiedenen Methoden.- II. Die praktische Durchführung der Bestimmung.- N. Stereo-Elektronenmikroskopie.- I. Die Grundlagen.- II. Verschiedene Anordnungen zur Gewinnung stereoskopischer Teilbilder bei Elektronenmikroskopen.- O. Die Ergebnisse der Elektronen-Übermikroskopie auf den verschiedenen Anwendungsgebieten.- I. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes auf physikalische, chemische und technische Probleme.- II. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes in Biologie und Medizin.- P. Namen- und Sachverzeichnis.